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解密常见问题
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问:你们单片机解密是否会失败?IC解密是否损害母片?如果解密失败,你们是否会赔偿我们损失?

2014-08-20 16:04:30      点击:

问:你们单片机解密是否会失败?IC解密是否损害母片?如果解密失败,你们是否会赔偿我们损失?


答:这个是很多客户非常关心的问题,我们下面结合我们解密的经验,详细谈谈这些可能。

单片机解密存在失败的概率,从我们解密的经验来看,按概率来讲,大概存在1%单片机解密的失败概率,存在0.3%的损坏母片的概率。所以我们不保证100%解密成功,也不保证100%不破坏母片,请客户慎重考虑这种风险
但是我们对解密失败的原因进行了认真总结(下面写了一些,有些涉及核心技术的我们没有列出),并尽量采用了降低这种概率的一系列办法,目前失败的概率愈来愈低,并且我们承诺失败不收客户任何费用。下面分析解密失败的原因和损坏母片的可能性问题。
单片机解密失败的原因:
1.DECAP
存在失败的可能:
A.
过腐蚀,PAD腐蚀坏,外部不能读出程序(如下图)

B.芯片流片工艺不好,PASSVATION表层(钝化层)有漏孔,DECAP的时候容易腐蚀PASSVATION表层,使管芯实效,外部无法读出程序
C.
开盖的时候把PIN脚氧化(酸弄到管脚上了)
D.
无意中弄断金线
E.
单片机机使用特殊封装材料,无法和酸反应

F.管芯特殊封装,不在芯片正中位置,极容易开坏(下图是MCU2个管芯组成,通常称为MCM

G:芯片封装的时候有杂质或空气的气孔,无法进行化学反应或者某部分强烈反应。
H:
绑定线采用铜线,铝线,DECAP需要采用特殊工艺,并且成功率低
对于DECAP失败的,目前我们可以采用绑定方式解决掉。
2.FIB
存在失败的可能:
A:
芯片流片工艺小,位子没有找正确,比如PIC16C7XPIC16C6X系列
B:FIB
连线过长,离子注入失效
C:
离子注入强度没有控制好
D:FIB
设备存在问题(目前上海FIB设备基本是台湾或美国淘汰的,设备存在问题的概率还经常出现,但知道有问题还好,怕就怕做的过程中突然出现问题,当然这个概率极其的低)
E:
某些芯片破解,需要在同一小区域做多项FIB,或者在同一时间内,做多项FIB,那么就容易FIB出现问题。
F:
芯片本身的防静电设计不好,比如AT89C2051,做FIB或后期读程序很容易损坏芯片
3.
其他单片机解密失败原因:
目前加密的最新技术不断出现(我么已经遇到过一片ATMEGA48的最近加密方式,你用编程器一读母片,母片就不能用!特殊的软加密无法修改、编程器软件缺陷、芯片烧断过多管脚并且烧断保护电路、低级的误操作都可能使解密失败;
还有一些单片机是手工操作解密,比如HT,MDT等,这些和解密者的水平和经验有相当大的关系;
目前单片机的程序存储是靠内部电子作为介质来存储的,当芯片使用周期比较长或受到外部强磁场等环境的影响,失败的概率更高;
另外带时序功能GAL解密,带有猜测性质,也存在失败的概率;如果采用纯软件的方式破解,和母片的编程软件、生产日期和编程方式甚至编程语言等有很大关系,也存在失败的概率。
上面的原因可能就造成单片机解密的失败。
对于单片机解密是否损坏母片?单片机解密解密存在损坏母片的概率,大概有0.3%的概率,所以也请客户考虑这种风险
我们目前单片机解密有三种做法,一种是软件的方法(要借助类似编程器的自制设备),这种方法一般不破坏母片,但也存在误操作的可能(比如误擦除等),这种概率更低大概只有0.02%(我们目前只出现过一次,新手操作);
还有一种是硬件为主,辅助软件,这种方法需要剥开母片(开盖或叫开封,decapsulation),然后做电路修改(通常称FIBfocused ion beam),这种破坏芯片外形结构和芯片管芯线路(影响加密功能),但不改变芯片本身功能,但在DECAPFIB过程也存在破坏芯片的可能(具体见上面分析)。
另外现在刚研究出来的方法,使手工方法,这种方法操作的过程种可能损坏母片,这个和解密者的经验水平有很大的关系。

对于是否赔偿客户损失的问题,我们是这样处理的,原则上,我们只保证不成功不收取客户任何费用,但也不赔偿客户损失;对于这个我们是这样认为的,我们帮你解密,我们获取的是有限的利润(可能破解个芯片后,产生的价值几万,但是我们只收取几百元),那么也只能承担有限的风险(我们解密的时间和成本)。
当然如果客户需要赔偿损失也可以,那么必须把设备带到我们这边当面测试初始芯片是正常的,我们会录像记录证据的,并且以后样片也在我们这边当场测试,另外解密费用是赔偿费的2倍,比如你要我们赔偿1万,那么失败了,我们赔偿客户1W,成功了,我们收客户解密费用2万。